How to characterize patent quality with multiple indicators? Evidence based on economic performance of Chinese companies

Dados Bibliográficos

ID21443045
AutoresJia Lin (0000-0002-8691-3358, Tongji University), Howei Wu (0000-0001-6784-7175, Peking University, autor correspondente), Ho-mou Wu
Ano2025
Volume130
Fascículo8
Páginas4249-4281
Data de publicação2025-08-01
Peer ReviewedSim
Open AccessSim
TipoARTICLE
PeriódicoScientometrics (JOURNAL)
Identificadores do periódicoISSN: 0138-9130 • E-ISSN: 1588-2861
EditoraSpringer Science and Business Media LLC (PUBLISHER)
DOI10.1007/s11192-025-05401-3
OpenAlexW4413293219
IdiomaEN
Referências citadas49